Analise de Raios X
Difração, Cristalografia e Tensão Residual
A Análise de Raios X abrange um conjunto de técnicas essenciais para a caracterização estrutural e cristalográfica de materiais. A Difração de Raios X (DRX) permite a identificação precisa de fases cristalinas, análise de pureza e estudo da microestrutura de metais, cerâmicas e polímeros.
Além disso, métodos como a medição de tensão residual e tomografia computadorizada por raios X viabilizam testes não destrutivos com alta resolução para avaliar esforços internos, falhas estruturais e propriedades tridimensionais de componentes.
É uma solução indispensável em P&D, controle de qualidade, engenharia mecânica, mineralogia e fabricação de materiais avançados.
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