Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV

Gera imagens de alta resolução da topografia de superfícies, com capacidade de análise elementar via EDS.

Fundamental para análise de falhas, microestrutura e processos de fabricação. Veja como a Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV aplica-se em análise de materiais.