Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV
Gera imagens de alta resolução da topografia de superfícies, com capacidade de análise elementar via EDS.
Fundamental para análise de falhas, microestrutura e processos de fabricação. Veja como a Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV aplica-se em análise de materiais.
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