Espectroscopia XPS para Caracterização de Superfícies de Luvas Descartáveis
A Espectroscopia XPS é fundamental para a caracterização de superfícies de luvas descartáveis, garantindo qualidade e segurança em aplicações laboratoriais. A técnica permite identificar impurezas que podem comprometer análises críticas, fornecendo dados precisos para controle de qualidade. No blog da Tennessine, descubra como o XPS contribui para essa análise detalhada!
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