Tag: Espectroscopia de fotoelétrons por raios X

Espectroscopia XPS para Caracterização de Superfícies de Luvas Descartáveis

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A Espectroscopia XPS é fundamental para a caracterização de superfícies de luvas descartáveis, garantindo qualidade e segurança em aplicações laboratoriais. A técnica permite identificar impurezas que podem comprometer análises críticas, fornecendo dados precisos para controle de qualidade. No blog da Tennessine, descubra como o XPS contribui para essa análise detalhada!

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Espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS) para filtros e fibras!

Espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS) para filtros e fibras!

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A Espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS) fornece informações detalhadas sobre a composição química da superfície de filtros e fibras. Isso é crucial para entender a presença de materiais específicos, impurezas ou revestimentos aplicados na superfície. Neste artigo, iremos abordar as principais características desta técnica.

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