FIB-SIMS: O Futuro da Microscopia Química
A Espectrometria de Massa Secundária com Feixe de Íons Focados (FIB-SIMS) está mudando a forma como enxergamos os materiais em nível microscópico. Revolucionando a pesquisa com alta resolução e mapeamento 3D. Neste artigo iremos te contar tudo o que você precisa saber sobre essa técnica. Explore uma nova era de descobertas, veja mais a seguir!
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