Inicio
Técnicas Analíticas
Análise de Gás
Analise de Raios X
Difração de Raios X
Tensão Residual
Tomografia Computadorizada
Análise Térmica
Análise Dinâmica Mecânica – DMA
Calorimetria Exploratória Diferencial – DSC
Calorimetria Exploratória Diferencial Simultâneas – STA/TG-DSC
Calorimetria Isotérmica
Analisadores Portáteis
Eletroquímica
Ensaios Mecânicos
Dureza
Microdureza
Tribologia
Espectroscopia
Espectroscopia FTIR
Espectroscopia Raman
Espectroscopia UV-VIS
Espectrometria de Emissão Óptica por Centelhamento – OES
Espectroscopia de fotoelétrons por raios X – XPS
Espectroscopia NIR
Microscopia Eletrônica
Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV
Microscopia Crioeletrônica
Microscopia Eletrônica de Transmissão
Reatores e Autoclaves
Reatores de Alta Pressão
Reatores de Fluxo Contínuo
Reatores em Batelada
Reologia
Tratamento Térmico
Segmentos
Alimentos e Bebidas
Ciências da Vida
Ciência dos Materiais
Cimenteira e Construção Civil
Farmacêutico e Cosmético
Indústria de Energia
Hidrogênio Verde
Indústria Metal Mecânica
Indústria Química
Plásticos e Polímeros
Nosso site
Inovação Científica
Espectroscopia
,
Espectroscopia de fotoelétrons por raios X – XPS
Espectroscopia XPS para Análise de Lentes de Contato
24 de dezembro de 2024
A otimização do design dessas lentes requer uma caracterização detalhada…
error:
Content is protected !!
