XPS
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Analise de Raios X, Ciência dos Materiais, Difração de Raios X, Dureza, Ensaios Mecânicos, Espectroscopia de fotoelétrons por raios X – XPS, Microdureza, Microscopia Eletrônica, Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV, Segmentos, Técnicas Analíticas, Tomografia Computadorizada, TribologiaChips Fotônicos e IA: o papel da caracterização de materiais
Os chips fotônicos representam uma das principais apostas para ampliar a capacidade computacional da inteligência artificial. Neste artigo, mostramos como técnicas como MEV, DRX, XPS, Micro-CT, dureza e tribologia contribuem…
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Ciência dos Materiais, Espectroscopia, Espectroscopia de fotoelétrons por raios X – XPS, Eventos e Notícias, Segmentos, Técnicas Analíticas1º WEFERX fortalece a comunidade científica em XPS no Brasil
O 1º WEFERX, realizado em setembro de 2025 em São Pedro/SP, reuniu especialistas nacionais e internacionais em XPS e NAP-XPS, técnicas essenciais para a caracterização de superfícies. A Tennessine, em…
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A Espectroscopia XPS é fundamental para a caracterização de superfícies de luvas descartáveis, garantindo qualidade e segurança em aplicações laboratoriais. A técnica permite identificar impurezas que podem comprometer análises críticas,…
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A otimização do design dessas lentes requer uma caracterização detalhada de sua superfície. É nesse contexto que a Espectroscopia XPS pode contribuir para lentes de contato mais duradouras e confortáveis.…
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Entenda como a Espectroscopia de Fotoelétrons de Raios X potencializa o desenvolvimento de polímeros. XPS é uma técnica analítica poderosa utilizada para estudar a composição química e a estrutura eletrônica…
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A Espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS) fornece informações detalhadas sobre a composição química da superfície de filtros e fibras. Isso é crucial para entender a presença de materiais…